TEM透射电镜的样品制备方法

大家好，今天给各位分享TEM透射电镜的样品制备方法的一些知识，其中也会对透射电镜试样制备方法及其特点进行解释，文章篇幅可能偏长，如果能碰巧解决你现在面临的问题，别忘了关注本站，现在就马上开始吧！

双球差电镜与单球差区别是什么，如何选择？

球差电镜可分为AC-TEM（使用 Image 模式时，影响成像分辨率的主要因素是物镜的球差，球差校正装置安装在物镜位置） 和AC-STEM（使用 STEM 模式时，影响分辨率的主要因素是聚光镜的球差，球差校正装置会安装在聚光镜位置）。只配了其中一种球差校正器的就叫单球差，在一台TEM上同时两个球差校正器的就是双球差。如何选择，需要看具体的拍摄要求会用到哪种模式。

顺便来了解一下球场电镜的更多知识吧~

球差电镜的原理及分类

用球差校正装置扮演凹透镜修正球差的透射电镜即为球差透射电镜（Special Aberration Corrected Transmission Electron Microscope, AC-TEM）。由于TEM分为普通的TEM和用于精细结构成像的STEM，故球差电镜也可分为AC-TEM（球差校正器安装在物镜位置） 和AC-STEM（球差校正装置安装在聚光镜位置）。此外，还有在一台TEM上同时安装两个校正器，同时校正汇聚束（Probe）和成像（Image）的双球差校正TEM。

双球差电镜介绍：

双球差校正透射电子显微镜，能在TEM模式和STEM模式下提高分辨率，分辨率小于60pm；

配有四个高效能谱探头，能实现原子级化学成分分析；

利用单色器、电子能量损失谱，可对材料局部区域的光学性质、电子结构及原子环境等信息进行极高分辨率的表征；

该透射电镜同时也能在透射、扫描透射和能谱模式下对材料进行三维重构；

此外，也配有洛伦兹模式、差分相位衬度和电子全息。

球差TEM的应用

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1）STEM：成像上，TEM和HRTEM的光照射范围是面，而STEM是一点一点的扫射，然后再收集。显然STEM对结构的表征更加细致。STEM和常规TEM一样也分明场和暗场，但STEM常常和HAADF（一种高角环状暗场探测器）连用以获得材料的微区结构及元素分布信息。

2）EELS（电子能量损失谱）：利用入射电子引起材料表面电子电离、价带电子激发、震荡等，发生非弹性散射，用损失的能量来获取表面原子的物理和化学信息的方法。通过电子能量损失谱(EELS)和X射线能谱仪(EDS)可以获得样品的化学信息，从而替换结构信息。

3）HRTEM（高分辨像）：用来观测晶体内部结构、原子排布以及位错、孪晶等精细结构。高分辨像是相位衬度像，是所有参加成像的衍射束与透射束因相位差而形成的干涉图像。

4）Mapping（EDS/EDX）：用于获得合金、纳米管、壳体材料等的元素分布，进而辅助物相鉴定或结构分析等。

5）会聚束电子衍射花样（CBED）：入射电子以非平行光入射样品并发生衍射时，物镜后焦面上的透射斑和衍射斑均扩展为圆盘，而圆内的各种衬度花样将反应样品晶体结构的三维信息。会聚束主要应用于晶体对称性、晶体点阵参数、薄晶片厚度、晶体和准晶体中位错矢量的测量及材料应变场研究。

6）选区电子衍射花样（SAED）：用于晶体结构分析，晶格参数测定，辅助物相鉴定等。

关于TEM透射电镜的样品制备方法的内容到此结束，希望对大家有所帮助。